ระบบลำเลียงแสงที่ 3.2Ua:PES เปิดให้บริการแสงซินโครตรอนในย่านของ Vacuum Ultra-Violet (VUV) ถึง Soft X-ray (40 - 1040  eV) เพื่อการศึกษาองค์ประกอบทางเคมีและโครงสร้างอิเล็กทรอนิกส์บริเวณพื้นผิวของวัสดุโดยอาศัยเทคนิค Photoelectron Emission Spectroscopy (PES)

ปัจจุบันสถานีทดลองของระบบลำเลียงแสงเปิดให้บริการใน 2 เทคนิคหลักคือ

 1. X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)

 2. Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy (ARPES)

นอกจากนี้สถานีทดลองยังเปิดให้บริการเทคนิคการทดลองและวิเคราะห์ทางพื้นผิวของวัสดุที่หลากหลาย อาทิเช่น 

• Soft X-ray Absorption Spectroscopy
  • Total Electron Yield (TEY)
  • Total Fluorescence Yield (TFY) 
• Auger Electron Spectroscopy (AES)
• Low Energy Electron Diffraction (LEED)
• การปลูกฟิล์มบางด้วยเทคนิค Molecular Beam Epitaxy (MBE) และ Electron Beam Evaporation

ติดต่อระบบลำเลียงแสงและบุคลากร

หัวหน้าส่วนงานระบบลำเลียงแสง : ดร. ฮิเดกิ นากาจิม่า

โทรศัพท์ : +44(0)217-040 ต่อ 1658

e-mail : This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it. 

วารสารอ้างอิงเพิ่มเติมเกี่ยวกับระบบลำเลียงแสง

[1] P. Songsiriritthigul, B. Kjornrattanawanich, A. Tong-on and H. Nakajima, Nucl. Instr. and Methods in Phys. Res. A 582, 100 (2007), Proceedings of the 14th National Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation - SRI 2007. [Science Direct]

[2] H. Nakajima, A. Tong-on, N. Sumano, K. Sittisard, S. Rattanasuporn, C. Euaruksakul, R. Supruangnet, N. Jearanaikoon, P. Photongkam, N. Chanlek and P. Songsiriritthigul, J. Phys.: Conf. Ser. 425, 132020 (2013), Proceedings of the 11th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation - SRI2012. [IOP]

[3]  H. Nakajima, S. Chaichuay, P. Sudmuang, S. Rattanasuporn, W. Jenpiyapong, R. Supruangnet, N. Chanlek and P. Songsiriritthigul, AIP conference Proceedings 1741, 020040 (2016) - SRI 2015. [AIP]

More detailed information is available in English web.

ระบบลำเลียงแสง 3.2Ub เปิดใช้งานเมื่อต้นปี พ.ศ. 2554 ให้บริการแสงซินโครตรอนในย่านรังสีอัลตราไวโอเลต (UV) และรังสีเอกซ์พลังงานต่ำ (soft x-ray) เพื่อใช้ในการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบโฟโตอิมิสชั่น - Photoemission Electron Microscopy (PEEM) ซึ่งเป็นเทคนิควิเคราะห์พื้นผิวขั้นสูง ที่นำโฟโต้อิเล็กตรอนที่หลุดจากตัวอย่าง มาเร่งให้เคลื่อนที่ผ่านเลนส์และโฟกัสบนฉากเรื่องแสง และได้ภาพพื้นผิวของตัวอย่างออกมา คอนทราสท์ (contrast) บนภาพที่ได้เกิดจากความแตกต่างของโฟโต้อิเล็กตรอนที่หลุดจากตัวอย่างเพราะ 1) ลักษณะรูปทรงบนพื้นผิว และ 2) ปริมาณการดูดกลืนแสงบนแต่ละบริเวณของพืนผิวแตกต่างกัน จึงสามารถศึกษาชนิดและสถานะทางเคมีของธาตุองค์ประกอบ รวมถึงลักษณะโครงสร้างทางกายภาพรอบอะตอมของธาตุที่สนใจ บนบริเวณนั้นของภาพได้ โดยวิเคราะห์คอนทราสท์ที่เปลี่ยนแปลงตามค่าพลังงานโฟตอนที่ฉายบนตัวอย่าง คล้ายกับ เทคนิคการดูดกลืนรังสีเอกซ์

กล้องจุลทรรศ์ที่ใช่บันทึกภาพคือ Spectroscopic Photoemission and Low Energy Electron Microscope (SPELEEM หรือ LEEM-III equipped with an imaging energy analyzer) ของบริษัท Elmitec GmbH ซึ่งใช้สำหรับศึกษาพื้นผิวของตัวอย่างซึ่งมีพื้นผิวที่เรียบนำไฟฟ้า หรือ ตัวอย่างขนาดเล็กซึ่งบนพื้นพื้นผิวที่เรียบนำไฟฟ้าตัวอย่าง ด้วยเทคนิค Photoemission Electron Microscopy (PEEM) และ Low Energy Electron Microscopy (LEEM)

ข้อมูลทางเทคนิค

เจ้าหน้าที่ประจำ

1. ดร.ชนรรค์ เอื้อรักสกุล - นักวิทยาศาสตร์ระบบลำเลียงแสง
2. น.ส.ทิพย์อุษา วงศ์พินิจ - นักวิทยาศาสตร์ประจำห้องปฏิบัติการ

ติดต่อสอบถาม: ดร.ชนรรค์ เอื้อรักสกุล This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.