ศาสตราจารย์ นาวาอากาศโท ดร. สราวุฒิ สุจิตจร ผู้อำนวยการสถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน ให้เกียรติเป็นประธานในการเปิดการอบรมเชิงปฏิบัติการระดับอาเซียน AWPESM2019

  

   

        ศาสตราจารย์ นาวาอากาศโท ดร. สราวุฒิ สุจิตจร ผู้อำนวยการสถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน กล่าวต้อนรับและเปิดอบรมเชิงปฏิบัติการระดับอาเซียนในเทคนิค Photoemission Electron Spectroscopy and Microscopy (ASEAN Workshop on Photoemission Electron Spectroscopy and Microscopy 2019: AWPESM2019) ระหว่างวันที่ 17 – 19 มิ.ย. 2562 ณ ห้องประชุมออดิทอเรียม สถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน (องค์การมหาชน) จ.นครราชสีมา โดยมี นิสิต นักศึกษา อาจารย์ นักวิจัยจากทั่วประเทศ ตลอดจนประเทศในภูมิภาคอาเซียน ได้แก่ อินโดนีเซีย มาเลเซีย และฟิลิปปินส์ พม่า อีกทั้งนักวิจัยจาก ราชอาณาจักรนอร์เวย์ และสาธารณรัฐประชาชนจีน เข้าร่วมอบรมรวมทิ้งสิ้นกว่า 40 ท่าน

  

          กิจกรรมประกอบไปด้วยการบรรยายจากจากผู้เชี่ยวชาญในเทคนิค Photoemission Electron Spectroscopy and Microscopy พร้อมกันนี้ สถาบันได้รับเกียรติจาก Dr. Anton Tadich, Senior Scientist - Soft X-ray Spectroscopy จากสถาบันวิจัยแสงซินโครตรอน ออสเตรเลีย บรรยายในหัวข้อ PES, ARPES and NEXAFS: Introduction and Application นอกจากนี้ยังมี Prof. Dr. Michael S. Altman, Physics Department of Hong Kong University of Science Technology จากเขตบริหารพิเศษฮ่องกงแห่งสาธารณรัฐประชาชนจีน บรรยายในหัวข้อ Low Energy Electron Microscopy Photoemission Electron Microscopy (LEEM/PEEM)

Assoc. Prof. Mohamed Boutchich, Sorbonne University จาก สาธารณรัฐฝรั่งเศส บรรยายในหัวข้อ ARPES & PEEM studies on graphene-based devices,

Assoc. Prof. Dr. Yasuharu Ohgoe, Tokyo Denki University จากประเทศญี่ปุ่น บรรยายในหัวข้อ Investigation of biocompatible DLC film structure for cell adhesion

Dr.Ka Ma Yu The Hong Kong University of Science and Technology จาก เขตบริหารพิเศษฮ่องกงแห่งสาธารณรัฐประชาชนจีน บรรยายในหัวข้อ Graphene nano-wrinkles and folds on metals

ผศ.ดร. มนตรี สว่างพฤกษ์ จากสถาบันวิทยสิริเมธี บรรยายในหัวข้อ XPS analysis on materials characterization

ดร.อิทธิพล  ฟองแก้ว จาก มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีสุรนารี บรรยายในหัวข้อ XPS spectral analysis based on DFT calculation: core-level binding energy shifts as a tool to study surface processes on LaAlO₃/SrTiO₃

  

  

  

          

  

          ซึ่งนอกจากภาคการบรรยายแล้ว ยังมีส่วนของภาคปฏิบัติการ ไม่ว่าจะเป็นการเตรียมตัวอย่าง การทำการทดลอง ณ ระบบลำเลียงแสงที่ 3.2Ua: Photoelectron Emission Spectroscopy (PES), ระบบลำเลียงแสง 3.2Ub: Photoemission Electron Microscopy (PEEM) และระบบลำเลียงแสงที่ 5.3 X-ray Photoelectron spectroscopy (XPS) รวมถึงการฝึกวิเคราะห์ข้อมูลอีกด้วย