สถานะการให้บริการเครื่องมือวิทยาศาสตร์

Dispersive Raman Microscope

เครื่องดิสเปอร์ซีฟ รามาน ไมโครสโคป

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Bruker รุ่น Senterra II

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ FTIR & Raman Micro-Spectroscopy (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

• สำหรับศึกษาโครงสร้างโมเลกุลของสาร วิเคราะห์หมู่ฟังก์ชัน และการกระจายตัวของหมู่ฟังก์ชันในตัวอย่าง ด้วยการวัดค่าพลังงานที่กระเจิงออกอันเกิดจากการสั่นของโมเลกุล
• ความยาวคลื่นเลเซอร์ 532 และ 785 nm
• สามารถตรวจสอบตัวอย่างได้ทั้งชนิดของแข็ง ของเหลว และผง
• Raman Microscope สามารถวัดตัวอย่างที่มีขนาดเล็กในระดับไมโครเมตรได้
• เป็นเทคนิคที่ไม่ต้องเตรียมตัวอย่างและไม่ทำลายตัวอย่าง (nondestructive) คือไม่มีการเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติทางเคมีและกายภาพของตัวอย่างหลังการวัด
• สามารถตรวจวัดในโหมดติดตามการเปลี่ยนแปลงตามเวลาทดสอบได้แบบต่อเนื่อง (Real time On-line) จึงประยุกต์ใช้เพื่อการศึกษาลักษณะการเกิดปฏิกิริยาทางเคมีต่าง ๆ ได้
• สามารถตรวจวิเคราะห์หาองค์ประกอบของสาร โดยวัดเปรียบเทียบรามานสเปกตรัมของวัสดุหรือสารที่กำลังตรวจสอบเทียบกับสเปกตรัมของสารมาตรฐานที่บันทึกไว้หรือที่มีอยู่แล้วใน Library ของฐานข้อมูล
• เป็นเทคนิคที่ใช้ทดสอบตัวอย่างเพื่อการควบคุมคุณภาพได้ทั้งในห้องปฏิบัติการหรือในกระบวนการผลิต

FT-Raman Spectrometer

เครื่องฟูเรียร์ทรานส์ฟอร์ม รามาน สเปกโตรมิเตอร์

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Bruker รุ่น MultiRAM

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ FTIR & Raman Micro-Spectroscopy (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

• สำหรับศึกษาโครงสร้างโมเลกุลของสาร วิเคราะห์หมู่ฟังก์ชัน และการกระจายตัวของหมู่ฟังก์ชันในตัวอย่าง ด้วยการวัดค่าพลังงานที่กระเจิงออกอันเกิดจากการสั่นของโมเลกุล
• ความยาวคลื่นเลเซอร์ 1064 nm
• สามารถตรวจสอบตัวอย่างได้ทั้งชนิดของแข็ง ของเหลว และผง
• เป็นเทคนิคที่ไม่ต้องเตรียมตัวอย่างและไม่ทำลายตัวอย่าง (nondestructive) คือไม่มีการเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติทางเคมีและกายภาพของตัวอย่างหลังการวัด
• สามารถตรวจวัดในโหมดติดตามการเปลี่ยนแปลงตามเวลาทดสอบได้แบบต่อเนื่อง (Real time On-line) จึงประยุกต์ใช้เพื่อการศึกษาลักษณะการเกิดปฏิกิริยาทางเคมีต่าง ๆ ได้
• สามารถตรวจวิเคราะห์หาองค์ประกอบของสาร โดยวัดเปรียบเทียบรามานสเปกตรัมของวัสดุหรือสารที่กำลังตรวจสอบเทียบกับสเปกตรัมของสารมาตรฐานที่บันทึกไว้หรือที่มีอยู่แล้วใน Library ของฐานข้อมูล
• เป็นเทคนิคที่ใช้ทดสอบตัวอย่างเพื่อการควบคุมคุณภาพได้ทั้งในห้องปฏิบัติการหรือในกระบวนการผลิต

SENTERRA II with FT-RAMAN module

เครื่องรามานไมโครสโคป พร้อมโมดูล FT-Raman

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Bruker รุ่น MultiRAM และ SENTERRA II

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ FTIR & Raman Micro-Spectroscopy (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

• FT-RAMAN เชื่อมต่อกับเครื่อง Raman Microscope (Senterra II) ทำให้ใช้ FT-RAMAN Microscope ที่เลเซอร์ความยาวคลื่น 1064 nm ได้ จึงประยุกต์ใช้งานได้หลากหลายมากยิ่งขึ้น
• สามารถตรวจสอบตัวอย่างได้ทั้งชนิดของแข็ง ของเหลว และผง
• Raman Microscope สามารถวัดตัวอย่างที่มีขนาดเล็กในระดับไมโครเมตรได้
• เป็นเทคนิคที่ไม่ต้องเตรียมตัวอย่างและไม่ทำลายตัวอย่าง (nondestructive) คือไม่มีการเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติทางเคมีและกายภาพของตัวอย่างหลังการวัด
• สามารถตรวจวัดในโหมดติดตามการเปลี่ยนแปลงตามเวลาทดสอบได้แบบต่อเนื่อง (Real time On-line) จึงประยุกต์ใช้เพื่อการศึกษาลักษณะการเกิดปฏิกิริยาทางเคมีต่าง ๆ ได้
• สามารถตรวจวิเคราะห์หาองค์ประกอบของสาร โดยวัดเปรียบเทียบรามานสเปกตรัมของวัสดุหรือสารที่กำลังตรวจสอบเทียบกับสเปกตรัมของสารมาตรฐานที่บันทึกไว้หรือที่มีอยู่แล้วใน Library ของฐานข้อมูล
• เป็นเทคนิคที่ใช้ทดสอบตัวอย่างเพื่อการควบคุมคุณภาพได้ทั้งในห้องปฏิบัติการหรือในกระบวนการผลิต

Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (LA-ICP-MS)

เครื่องแอลเอไอซีพีแมสสเปกโตรมิเตอร์

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Spectrometer ยี่ห้อ ThermoScientific รุ่น iCapQ, Laser ablation ยี่ห้อ ESI รุ่น NWR-213

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ LA-ICP-MS & UV-VIS (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

ICP-MS เป็นเครื่องมือที่ใช้ในการวิเคราะห์ธาตุ (elemental analysis) โดยอาศัยหลักการของอะตอมมิกสเปกโทรสโกปี (Atomic spectroscopy) เทคนิคนี้ใช้เลเซอร์ยิงไปที่ตัวอย่างให้เกิดการระเหิด (Laser Ablation) แล้วส่งต่อไปยังเครื่อง ICP ซึ่งใช้พลังงานจากพลาสมาทำให้อิเล็กตรอนวงนอกของอะตอมหลุดออกเกิดเป็นไอออนบวก จากนั้นไอออนบวกจะถูกแยกและวิเคราะห์ด้วยเทคนิคแมสสเปกโทรสโกปี (Mass spectroscopy) ซึ่งปริมาณไอออนบวกที่เกิดขึ้นจะสัมพันธ์โดยตรงกับความเข้มข้นของสารตัวอย่าง

คุณลักษณะเฉพาะ

• วิเคราะห์หาชนิดของธาตุที่มีความเข้มข้นต่ำได้ถึงระดับส่วนในพันล้านส่วน (parts per billion, ppb)
• วิเคราะห์ตัวอย่างที่มีสถานะเป็นของแข็งและของเหลวได้
• มีเครื่องดูดและฉีดสารตัวอย่างอัตโนมัติ
• วิเคราะห์หาชนิดของธาตุได้พร้อมกันถึง 70 ธาตุ
• วิเคราะห์ธาตุได้ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
• เครื่อง LA มีแหล่งกำเนิดแสงเลเซอร์ Neodymium Yttrium Aluminum Garnet (Nd:YAG) ที่ความยาวคลื่น 213 นาโนเมตร ใช้กับตัวอย่างของแข็งได้โดยไม่ต้องย่อยตัวอย่างด้วยกรด
• ทำแผนภาพการกระจายตัวของธาตุบนผิวตัวอย่างได้ (mapping) ด้วยความละเอียดแต่ละจุด (spatial resolution) ถึง 2 ไมครอน

UV-Vis spectrophotometer

เครื่องวัดค่าการดูดกลืนแสง

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

PerkinElmer รุ่น LAMBDA 950

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ LA-ICP-MS & UV-VIS (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

UV-Vis-NIR เป็นเครื่องมือที่ใช้ตรวจวัดการดูดกลืนแสง (Absorbance) การส่องผ่านแสง (Transmittance) และการสะท้อนแสง (Reflectance) ซึ่งปริมาณการดูดกลืนจะสัมพันธ์โดยตรงกับความเข้มข้นของสารตัวอย่าง จึงวิเคราะห์ได้ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ และประยุกต์ใช้วิเคราะห์ทดสอบได้หลากหลาย ทั้งสารอินทรีย์ สารอนินทรีย์ และสารประกอบเชิงซ้อนที่ดูดกลืนรังสีในช่วงดังกล่าว

• ระบบการวัดแบบลำแสงคู่ (Double beam Spectrophotometer) ทดสอบค่าการส่องผ่าน (Transmittance) และการดูดกลืน (Absorbance) ในช่วงความยาวคลื่น 175 – 3300 นาโนเมตร
• ชุด Integrating Sphere ขนาด 100 มิลลิเมตร สำหรับทดสอบค่า Transmittance และ Reflectance ของพื้นผิวตัวอย่างในช่วงความยาวคลื่น 200 – 2500 นาโนเมตร
• โปรแกรมคำนวณค่าสี (Color software) จากสเปกตรัมของสารตัวอย่าง แสดงค่าตามมาตรฐาน Tristimulus values (XYZ) และ CIE L*a*b*
• โปรแกรมวิเคราะห์ค่า light transmittance, solar direct transmittance และ ultraviolet transmittance สำหรับกระจกอาคารตามมาตรฐาน ISO 9050
• โปรแกรมทดสอบสมบัติด้านความใสและความขุ่นของพลาสติก (Haze) ตามมาตรฐาน ASTM D-1003

X-ray Diffractometer (XRD)

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Rigaku รุ่น SmartLab

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ XRD & XRF (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

เทคนิคเอกซเรย์ดิฟแฟรกชัน (XRD) ใช้รังสีเอกซ์วิเคราะห์และระบุชนิดสารประกอบ และโครงสร้างผลึกของสารประกอบในสารตัวอย่าง ทั้งเชิงคุณภาพ (Qualitative) และเชิงปริมาณ (Quantitative)

หลักการคือยิงรังสีเอกซ์ไปกระทบชิ้นงาน ทำให้เกิดการเลี้ยวเบนและสะท้อนออกมาที่มุมต่าง ๆ โดยมีหัววัดสัญญาณ (Detector) รับข้อมูล สารแต่ละชนิดจะเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ในมุมที่แตกต่างกันตามองค์ประกอบ รูปร่าง และลักษณะผลึก จึงบ่งชี้ชนิดสารประกอบและศึกษาโครงสร้างผลึกได้ รวมถึงปริมาณความเป็นผลึก ขนาดผลึก ความสมบูรณ์ของผลึก และความเค้นของสารประกอบ เมื่อใช้ร่วมกับอุปกรณ์ให้ความเย็น-ร้อน ยังศึกษาการเปลี่ยนแปลงโครงสร้างผลึกขณะสภาวะทดสอบเปลี่ยนไปได้

คุณลักษณะของเครื่อง

Max Power

9 kW

X-Ray generator

Cu anode, Kα1 1.544 Å

Detector

0D, 1D, 2D

การประยุกต์ใช้งาน

• Small angle X-ray scattering (SAXS) สำหรับวิเคราะห์ Particle/Pore size distribution ของวัสดุระดับนาโนเมตร
• วิเคราะห์เชิงคุณภาพ (Qualitative analysis) และเชิงปริมาณ (Quantitative analysis)
• วิเคราะห์ตัวอย่างแบบฟิล์มบาง (X-ray reflectivity) หาค่า thickness, density, surface roughness และ interface roughness ด้วยโปรแกรมคำนวณ
• วิเคราะห์แบบ Rietveld refinement
• เปรียบเทียบข้อมูลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพกับฐานข้อมูลอ้างอิง
• วิเคราะห์การเปลี่ยนแปลงของสาร ตั้งแต่อุณหภูมิห้องจนถึง 1500 องศาเซลเซียส

Wavelength dispersive X-ray Fluorescence (WD-XRF)

เครื่องเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ แบบกระจายความยาวคลื่น

ประเภทเครื่องมือ

เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

ยี่ห้อ / รุ่น

Rigaku รุ่น ZSX Primus II

สถานที่ตั้ง

ห้องวิเคราะห์ XRD & XRF (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิรินธรวิชโชทัย)

ข้อมูลทางเทคนิค

WD-XRF เป็นเครื่องมือวิเคราะห์ชนิดและปริมาณธาตุในสารตัวอย่างด้วยหลักการเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์แบบ Wavelength Dispersive วิเคราะห์ธาตุได้ตั้งแต่เบริลเลียม (Be) ถึงยูเรเนียม (U) ตั้งแต่ระดับเปอร์เซ็นต์จนถึงระดับส่วนในล้านส่วน (ppm) และวิเคราะห์ได้ทั้งตัวอย่างของแข็งและของเหลว

ลำรังสีเอกซ์จาก X-ray generator ถูกส่งไปยังสารตัวอย่าง เกิดอันตรกิริยากับธาตุต่าง ๆ แล้วเกิดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์ ผ่านคอลลิเมเตอร์ (Collimator) ให้เป็นลำขนาน ไปกระทบ Analyzing crystal ในสเปกโทรมิเตอร์สุญญากาศ ซึ่งแยกรังสีเอกซ์ตามความยาวคลื่น ก่อนส่งไปยังดีเทคเตอร์ (Detectors) เพื่อแปลงเป็นสเปกตรัม

คุณลักษณะของเครื่อง

X-ray Generator Unit

Tube above 4 kW, 60 kV, 150 mA · Rh target anode · End window 30 micron

Detectors

Scintillation counter (SC) สำหรับธาตุหนัก, Flow proportional counter (F-PC) สำหรับธาตุเบา

Analyzing Crystal

LiF(200), LiF(220), GeH, PETH, RX25, RX40, RX45, RX75

ห้องตัวอย่าง (Sample Chamber)

• เปลี่ยนตัวอย่างอัตโนมัติ (Auto Sample Changer) วางถ้วยตัวอย่างได้ 48 ถ้วย
• รองรับตัวอย่างเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 50 มิลลิเมตร และหนาไม่เกิน 30 มิลลิเมตร
• Sample mask 3 ขนาด (เส้นผ่านศูนย์กลาง 10, 20 และ 30 มิลลิเมตร) เลือกตามขนาดตัวอย่าง
• ทำงานได้ทั้งระบบสุญญากาศและก๊าซฮีเลียม
• หมุนตัวอย่างขณะวัดได้
• วัดการกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิว (Micro Mapping) ที่ความละเอียด 50 ไมโครเมตร