Wavelength dispersive X-ray Fluorescence (WD-XRF)
เครื่องเอ็กซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ แบบกระจายความยาวคลื่น

 

 

ประเภทเครื่องมือ : เครื่องมือวิเคราะห์ทดสอบ

 

ยี่ห้อ/รุ่น : Rigaku รุ่น ZSXPrimusII

 

ข้อมูลทางเทคนิค : 

 

     WDXRF เป็นเครื่องมือสำหรับวิเคราะห์ชนิดและปริมาณธาตุในสารตัวอย่างโดยใช้หลักการเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์ มีลักษณะการทำงานเป็นแบบ Wavelength Dispersive สามารถหาปริมาณธาตุได้ตั้งแต่ เบริลเลียม (Be) จนถึง ยูเรเนียม (U) สามารถวิเคราะห์หาปริมาณธาตุที่มีมากในระดับความเข้มข้นสูงตั้งแต่ระดับ เปอร์เซ็นต์ (percent) จนถึงมีปริมาณน้อยมาก ระดับส่วนในล้านส่วน (ppm) เป็นเครื่องที่สามารถวิเคราะห์ตัวอย่างได้ทั้งของแข็งและของเหลว

     ในกระบวนการวิเคราะห์สารด้วยเทคนิค เอกซเรย์ฟลูออเรสเซนต์แบบ Wavelength Dispersive นั้น เกิดจากลำรังสีเอกซ์ที่ได้จากเครื่อง X-ray generator จะถูกส่งไปยังสารตัวอย่างเพื่อให้เกิดอันตรกิริยากับธาตุต่างๆ ในสารตัวอย่างแล้วเกิดเอกซเรย์ฟลูออเรสเซนซ์ผ่านคอลลิเมเตอร์ (Collimator) เพื่อทำให้ลำรังสีเอกซ์เป็นลำขนานและไปในทิศทางที่ต้องการ ให้ไปกระทบกับ Analyzing crystal ซึ่งอยู่ในสเปกโทรมิเตอร์ที่ทำให้เป็นสุญญากาศ Analyzing crystal จะทำหน้าที่กระจายหรือแยกรังสีเอกซ์อกไปให้มีความยาวคลื่นต่าง ๆ กัน และรังสีเอกซ์ที่ความยาวคลื่นต่างๆ กัน จะถูกส่งไปที่ดีเทคเตอร์ (Detectors) เพื่อแปลงสัญญาณออกมาเป็นสเปกตรัม

X-ray Generator Unit ;

- Tube-Above 4 kW, 60kV, 150mA
- Rh Target Anode
- End Window 30 Micron

Detectors ; Scintillation counter (SC) ส⯑ำหรับวิเคราะห์ธาตุหนัก, Flow proportional counter (F-PC) สำหรับวิเคราะห์ธาตุเบา

Analyze Crystal ; LiF(200), LiF(220), GeH, PeTH, RX25, RX40, RX45, RX75

Sample Chamber ;

- มีระบบการเปลี่ยนตัวอย่างภายในเครื่องแบบอัตโนมัติ (Auto Sample Changer) สามารถวางถ้วยตัวอย่าง (Sample Changer) ได้ 48 ถ้วย

- รองรับตัวอย่าง ที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 50 มิลลิเมตร และความหนาไม่เกิน 30 มิลลิเมตร

- มี Sample mask 3 ขนาด (เส้นผ่านศูนย์กลาง 10, 20 และ 30 มิลลิเมตร) สามารถเลือกให้เหมาะสมตามขนาดของตัวอย่างได้

- สามารถทำงานได้ทั้งระบบสุญญากาศ และก๊าซฮีเลี่ยม

- มีระบบการหมุนตัวอย่างขณะวัด

- มีระบบการวัดวัดการกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวตัวอย่าง (Micro Mapping) ที่ความละเอียดของการวัด 50 ไมโครเมตร

ผู้ดูแลเครื่องมือ :

 

ที่ปรึกษา งานวิเคาะห์/วิจัย :

 

สถานที่ตั้ง :ห้องวิเคราะห์ XRD & XRF (โซนห้องปฏิบัติการส่วนวิจัยประยุกต์เพื่ออุตสาหกรรม ฝ่ายสถานีวิจัย ชั้น 3 อาคารสิริธรวิชโชทัย)